Filtros : "EP" "IQ-QFL" "ARTIGO DE PERIODICO" "Journal of Non-Crystalline Solids" Limpar

Filtros



Refine with date range


  • Source: Journal of Non-Crystalline Solids. Unidades: EP, IEE, IQ

    Subjects: RUTÊNIO, LUMINESCÊNCIA, FOTOCONDUTIVIDADE, FILMES FINOS

    Acesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      SANTOS, G. et al. Opto-electrical properties of single layer flexible electroluminescence device with ruthenium complex. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 354, n. 19-25, p. 2571-2574, 2008Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.10.064. Acesso em: 04 maio 2024.
    • APA

      Santos, G., Fonseca, F. J., Andrade, A. M. de, Patrocinio, A. O. de T., Mizoguchi, S. K., Iha, N. Y. M., et al. (2008). Opto-electrical properties of single layer flexible electroluminescence device with ruthenium complex. Journal of Non-Crystalline Solids, 354( 19-25), 2571-2574. doi:10.1016/j.jnoncrysol.2007.10.064
    • NLM

      Santos G, Fonseca FJ, Andrade AM de, Patrocinio AO de T, Mizoguchi SK, Iha NYM, Peres M, Simões W, Monteiro T, Pereira L. Opto-electrical properties of single layer flexible electroluminescence device with ruthenium complex [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2008 ;354( 19-25): 2571-2574.[citado 2024 maio 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.10.064
    • Vancouver

      Santos G, Fonseca FJ, Andrade AM de, Patrocinio AO de T, Mizoguchi SK, Iha NYM, Peres M, Simões W, Monteiro T, Pereira L. Opto-electrical properties of single layer flexible electroluminescence device with ruthenium complex [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2008 ;354( 19-25): 2571-2574.[citado 2024 maio 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.10.064
  • Source: Journal of Non-Crystalline Solids. Unidades: EP, IQ

    Subjects: FÍSICO-QUÍMICA, ESPECTROSCOPIA RAMAN, PLASMA

    Acesso à fonteAcesso à fonteDOIHow to cite
    A citação é gerada automaticamente e pode não estar totalmente de acordo com as normas
    • ABNT

      DIRANI, Ely Antonio Tadeu et al. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation. Journal of Non-Crystalline Solids, v. 273, n. 1/3, p. 307-313, 2000Tradução . . Disponível em: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0. Acesso em: 04 maio 2024.
    • APA

      Dirani, E. A. T., Andrade, A. M. de, Noda, L. K., Fonseca, F. J., & Santos, P. S. (2000). Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation. Journal of Non-Crystalline Solids, 273( 1/3), 307-313. doi:10.1016/s0022-3093(00)00177-0
    • NLM

      Dirani EAT, Andrade AM de, Noda LK, Fonseca FJ, Santos PS. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2000 ; 273( 1/3): 307-313.[citado 2024 maio 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0
    • Vancouver

      Dirani EAT, Andrade AM de, Noda LK, Fonseca FJ, Santos PS. Effect of the substrate on the structural properties of low temperature microcrystalline silicon films - a Raman spectroscopy and atomic force microscopy investigation [Internet]. Journal of Non-Crystalline Solids. 2000 ; 273( 1/3): 307-313.[citado 2024 maio 04 ] Available from: https://doi.org/10.1016/s0022-3093(00)00177-0

Digital Library of Intellectual Production of Universidade de São Paulo     2012 - 2024